XMD-300 X-IŞINI DİFRAKTOMETRESİ      
 
 

Kolay kullanımlı taşınabilir masaüstü tasarımı ile Unisantis XMD-300 büyük numunelerden, toz numune ve düzensiz numunelere kadar ölçüm yapabilecek esnekliğe sahiptir. Çok fonksiyonlu özellikleri ile, araştırmacılar, malzeme bilimciler ve yeni teknoloji üretenler için ekonomik bir analitik X-Işını Cihazıdır.


Yenilikçi bir X-Işını cihazı olan XMD-300, malzeme karakterizasyonu için endüstriyel ve araştırma uygulamaları alanlarında; jeoloji, madencilik, mineraloji, çimento, kimya, seramik, refraktör, metalürji, mühendislik uygulama ve kalite kontrolü, adli tıp, arkeoloji ve sanat çalışmaları, çevre kontrol, üniversite ve eğitimsel çalışmalar için ideal çözümler sunar.

ÜRÜN BROŞÜRÜ
XMD300 pdf

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 

 
 
  XMF-104 X-IŞINI ELEMENT ANALİZ CİHAZI      
 

Unisantis X-Işını Mikro Analiz Spektrometresi XMF-104, element kompozisyonların kalitatif ve kantitatif analizlerde X-Işını floresans metodunu kullanır. Atmosferik ortamda Aliminyumdan Uranyuma kadar, ppm seviyelerinden %100 konsantrasyonlara kadar analizlere imkan sağlar. Masaüstü tasarımı ile kolay kullanıma sahip XMF bakım gerektirmeyen bir yapıya sahiptir.

XMF 104 kalite kontrol ve araştırma uygulamalarında çeşitli alanlarda yer bulmaktadır; RoHS uygulamaları, değerli metal ve taş endüstrisi, adli tıp ve gümrük kontrol laboratuvarları, jeoloji ve madencilik, çimento, refraktör ve seramik endüstrileri, gıda ve kozmetik, boya ve kimya endüstrileri, mühendislik ve metalürji uygulamaları, üniversite ve araştırma eğitim enstitüleri, sanat ve arkeolojik uygulamalar bunlardan birkaçıdır.


ÜRÜN BROŞÜRÜ XMF104 pdf

 
 
     
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
ÜRÜN BROŞÜRÜ OPTICS pdf
ÜRÜN BROŞÜRÜ HELIOS pdf
         
 
 
 
** Ürünler hakkında detaylı teknik bilgi, broşür ve PDF dosyası mevcuttur, lütfen isteyiniz.
 
 
 
Ana Sayfa | Hakkımızda| Temsilcilikler | Ürünler | İletişim
 
 
2008 Standart Analitik Sistemler